Microscopía Electroquímica de Barrido: Metodología para la Construcción de Ultramicroelectrodos con un Extrusor Automático de Micropipetas

• G. Zambrano-Rengel CONACyT-Centro de Investigación en Corrosión, Universidad Autónoma de Campeche, Campus 6 de Investigaciones. San Francisco de Campeche, Campeche, CP: 24070, México.
• L. Dzib Centro de Investigación en Corrosión, Universidad Autónoma de Campeche, Campus 6 de Investigaciones. San Francisco de Campeche, Campeche, CP: 24070, México.
• D Arceo Laboratorio Nacional de Ciencias para la Investigación y Conservación del Patrimonio Cultural LANCICCICORR, Universidad Autónoma de Campeche, Campus 6 de Investigaciones. San Francisco de Campeche, Campeche, C.P: 24070, México.
• J. González Laboratorio Nacional de Ciencias para la Investigación y Conservación del Patrimonio Cultural LANCICCICORR, Universidad Autónoma de Campeche, Campus 6 de Investigaciones. San Francisco de Campeche, Campeche, C.P: 24070, México.

Palabras clave: Ultramicroelectrodos, SECM, Corrosión Localizada.

Resumen

Actualmente, en el Centro de Investigación de la Corrosión (CICORR), de la Universidad Autónoma de Campeche, se está desarrollando una ruta de caracterización electroquímica utilizando la técnica de Microscopía Electroquímica de Barrido (SECM), en diferentes sistemas orientados al estudio de la corrosión localizada. Esto requiere la construcción de ultramicroelectrodos (UME); instrumentos fundamentales para la aplicación de la técnica a través de la cual es posible estudiar procesos electroquímicos de alta resolución en la interfaz de un sustrato en solución, visualizando la electroquímica de topografías y reactividades de superficies y películas. La construcción de los ultramicroelectrodos se lleva a cabo de forma rápida y sistemática utilizando un extrusor de micropipetas automático Sutter Instrument P-1000, definiendo previamente las características del vidrio, tipo de filamento y tipo de ultramicroelectrodo que se desea obtener. En base a esto, el equipo se puede programar minimizando los errores para los fines requeridos. Posteriormente, los instrumentos debidamente fabricados se someten al proceso de calibración respectivo.

Citas

Sun P., Laforge F.O. and Mirkin M.V.: “Scanning

electrochemical microscopy in the 21st century”.

Phys. Chem. Chem. Phys., Vol. 9 (2007) 802–823.

Suter T., Böhni H.: “Microelectrodes for corrosion

studies in microsystems”. Electrochimi. Acta, Vol. 47

(2001) 191-199.

Bard A.J., Fan F., Kwak J. and Lev O.: “Scanning

electrochemical microscopy. Introduction and

principles”. Anal. Chem., Vol. 61 (1989) 132-138.

Oesterle A.: “The Pipette Cookbook, P-97 & P-1000

Micropipette Pullers Manual”. Sutter Instrument

Company, Novato CA, 2015.

Amphlett J.L. and Denuault G.: “Scanning

electrochemical microscopy (SECM): an

investigation of the effects of tip geometry on

amperometric tip response”. J. Phys. Chem. B, Vol.

, No. 49 (1998) 9946-9951.

Bard A.J., Denuault G., Lee Ch., Mandler D. and Wipf

D.: “Scanning electrochemical microscopy: a new

technique for the characterization and modification

of surfaces”. Acc. Chem. Res., Vol. 23 (1990) 357-

Ballesteros Katemann B., Schulte A. and

Schuhmann W.: “Constant-distance mode scanning

electrochemical microscopy. Part II: high-resolution

SECM imaging employing Pt nanoelectrodes as

miniaturized scanning probes”. Electroanalysis, Vol.

, No. 1-2 (2004) 60-65.